- в наличии
Микроскоп прямой металлографический ММН-41Э
Металлографический микроскоп ММН-41Э предназначен для визуального наблюдения микроструктуры непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле, а также для исследования объектов в поляризованном свете. В том числе предназначен для исследования кремниевых пластин и полупроводников.
Тринокулярная насадка микроскопа позволяет подключить видеокамеру. Оптимальным вариантом является использование цифровой видеокамеры МС.
Цена зависит от комплектации прибора
Характеристики модели (внутренний шифр: MXFMS)
| Увеличение, крат | 50 – 1000 |
|---|---|
| Объективы-планахроматы увеличение, крат | 5х; 10х; 20х; 50х; 100х |
| Методы исследования | Отраженный свет: светлое/тёмное поле, ДИК (дифференциально-интерференционный контраст)* |
| Окуляры, увеличение, крат | 10x/22 |
| Наибольшее линейное поле в пространстве изображений, мм | 22 |
| Диапазон перемещения XY координатного столика, мм | 100х85 |
| Максимальная высота образца, мм | 130 |
* — Поставляется по дополнительному заказу.
Галерея
Области применения:
- Производство полупродводников
- Исследование кремниевых пластин
- Металлография
- Криминалистика
- Металлургия
- Микроэлектроника
- Машиностроение
- Учебные цели